原子力显微镜测试技术的应用与发展
原创发布 / 2023-12-02
原子力显微镜(Atomic Force Microscopy,AFM)是一种基于扫描探针显微技术的高分辨率表面形貌和性质测试仪器。它具有高分辨率、高灵敏度、高精度、非接触、无需特殊样品处理等特点,广泛应用于材料科学、生物医学、纳米技术等领域。本文将介绍原子力显微镜测试技术的应用与发展。 1. 原子力显微镜测试技术的基本原理 原子力显微镜测试技术是以探针与样品之间的相互作用力为基础的。探针通过弹簧支撑系统与样品接触,扫描探针在样品表面上的运动,以探测样品表面的形貌和性质。探针与样品之间的相互作用